產(chǎn)品中心
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變溫霍爾效應實驗儀霍爾效應的測量是開展半導體研究的重要方法。本機利用計算機的數(shù)據(jù)采集和處理在80K-400K溫度范圍內(nèi)對霍爾系數(shù)和電導率的聯(lián)合測量,行半導體導電機制及散射機制的研究,并可確定半導體的些基本參數(shù),如導電類型、載流子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質(zhì)電離能等。
餾實驗儀實驗目的: 1、熟悉餾單元操作過程的設(shè)備與流程。 2、了解板式塔結(jié)構(gòu)與流體力學性能。 3、掌握餾塔的操作方法與原理。 4、學習餾塔效率的測定方法。
霍爾效應實驗儀實驗內(nèi)容: 1、霍爾電壓與霍爾電流的關(guān)系; 2、霍爾電壓與勵磁電流的關(guān)系; 3、電磁鐵氣隙處X方向磁場強度的分布; 4、電磁鐵氣隙處Y方向磁場強度的分布; 5、測量磁感應強度; 6、測量電磁鐵鐵芯的磁導率
穩(wěn)態(tài)平板法測定熱材料導熱系數(shù)實驗臺術(shù)參數(shù):穩(wěn)態(tài)平板法是種應用維穩(wěn)態(tài)導熱過程的基本原理來測定材料導熱系數(shù)的方法,可以用來行導熱系數(shù)的測定試驗,測定材料的導熱系數(shù)及其與溫度的關(guān)系;可測導熱系數(shù)在:0.02~400 w/(m.k)的200×200×20何材料。
光纖光譜儀應用綜合實驗儀實驗內(nèi)容 ????? 1、利用反射光譜測定印刷品顏色; ????? 2、利用透射光譜測定濾光片透過率; ????? 3、利用等離子體光譜測定氣體成分; ????? 4、利用白光干涉測定薄膜厚度測量。