加熱型臺式涂膜機/實驗型加熱涂布機//鋰離子電池涂布機   型號：GP-200

本產品廣泛用于各種溫涂膜研究，例如陶瓷類薄膜、晶體類薄膜、電池材料薄膜、納米薄膜；能夠適應未來溫條件下成膜的科學的發(fā)展。

、 加熱型臺式涂膜機/實驗型加熱涂布機//鋰離子電池涂布機   型號：GP-200主要特點：

1、強風加熱和數(shù)字顯示溫度控制的烘干系統(tǒng)，zui作溫度200℃；
2、涂膜速度在0～100mm/秒范圍內可調，并且?guī)?shù)字顯示；
3、真空鋁盤，可快速放置或取下片；
4、帶調整涂膜厚度（度0.02mm）寬度0-140mm的刮刀；

二、   型號：GP-200參數(shù)：

1、涂抹速度：0～100mm/秒；
2、zui大行程：220mm；
3、真空板 ：帶真空鋁平板 ；
4、真空板尺寸：365mm(L)×200mm(W)×30mm(H)；
5、刮刀可調范圍：0.02～2
6、加熱烘干系統(tǒng)：室溫～200℃,數(shù)顯溫度控制器,度±1℃
7、重量：45KG
8、電源：220V ±10%

剪切擴張兩用鉗/剪切擴張鉗 型號：DP-GYJK-36.8～42.720-3

種具同時具備剪切、擴張和牽拉能。此鉗的能相當于臺剪斷器和臺擴張器。

應用范圍:

交通事故救援 地震等災害救援 意外事故救援

適合機動式救援操作

撬門及使金屬結構變形

切斷金屬結構、車輛件、管道及金屬板

特點:

刀具采用可重磨的強度合金具鋼

剪切防崩濺與自動復位手控轉向閥，為操縱者提供安保證

手控閥操作可使刀片的張開閉合處于何位置，且具有自鎖能

張開閉合耗時短，加速救援程

主要參數(shù)

項目                                  參數(shù)

剪刀端zui大開口距離               ≥350 mm

額定作壓力                   63Mpa（630.000bar）

zui大剪斷能力                     15 mm(鋼板) 

（Q235材料）                   ф28mm(圓鋼)

額定擴張力                     32 KN （3.2噸）

質量                                 ≤14 kg

尺寸：長×寬×                760×210×170mm  

微型速粉碎機 粉碎機 粉碎機 型號：DP-WWFS-Ⅱ

該機可用于破碎煤炭、焦炭、礦物質、土壤、砂、石和植物種子。適用于煤炭、焦化、地質、藥衛(wèi)生、農業(yè)、業(yè)的科研單位和化驗制樣室制取少量試樣用。

二、主要標

轉子轉速：210000r/min

入料粒度：-6mm

出料粒度：≤60-120

每次入料量：≤50g

粉碎時間：3-5秒

電源：220V 50HZ

三、該產品特點

1、轉速：≥10000轉/分

2、效率：50g物料僅需要3-5秒便可成粉碎，即簡便又快速。

3、密封性好；作中沒有被粉碎的物料泄漏，使作環(huán)境保持清潔。

4、性能穩(wěn)定：可連續(xù)作，使用壽命長。

半導體粉末電阻率測試儀/粉末電阻率測試儀 型號：DP-FZ-2006

本儀器是為了適應當前迅速發(fā)展中的分子半導電納米材料電阻率測試需要,參照有關標準的。 儀器的電流輸出為 10 µA - 100 mA ，電阻率測試范圍為 10 ^-2 - 10 ⁵ Ω cm ，直接采用數(shù)字顯示。儀器的可靠性和

穩(wěn)定性大大增強，更方便于用戶， 而且價格低廉、實惠。配置不同的測試架可以對半導體粉末、分子納米粉末和固態(tài)金屬行電阻、電阻率多用途的測量。

適用于有機、無機半導體粉末材料(包括納米級)的電阻率測量, 也可以測量固體半導體材料，特別適合于太陽能多晶硅、硅粉質量的測量、分選和質量控制. 電阻率值直接數(shù)字顯示由具有度加壓系統(tǒng), 度測量的測試臺和儀器組成.

儀器主要包括電氣箱和測試架兩分，電氣測試分由度直流數(shù)字電壓表和直流恒定電流源組成。測試架為壓力傳感器，加壓機構和粉末標準容器組成。壓力機構采用手動操作、壓力平穩(wěn)。本儀器具有測量度，穩(wěn)定性好，重復性好，使用方便等特點， 并有自校能。

本儀器采用通用的電流-電壓降法即四端子測量法，可以消除電與粉末接觸產生的接觸電阻誤差，還可以消除聯(lián)接系統(tǒng)所帶來的誤差，克服了以往傳統(tǒng)的二端測量粉末電阻率儀器的弊病，真實、準確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復性好。

本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、等院校、科研、是檢驗和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣量的種重要具。

參數(shù)；

1. 測量范圍：
   • 電阻 10^-4 - 10⁵ Ω, 分辨率 10^-4 Ω
   • 電阻率 10^-4 - 10⁵ Ω.cm，分辨率 10^-4 Ω.cm

測量誤差 ±（0.3% 讀數(shù) + 2 字）

2. 測量電壓量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率 10 µV
   測量度: ±（0.3% 讀數(shù) + 2 字）
3. 測量電流：0 - 100 mA 連續(xù)可調，
   電流量程：10 µA, 100 µA, 1 mA, 10 mA, 100mA
4. 試樣粒度：40 目以下 - 60 目以上（標準篩網）納米粉末
5. 試樣容器：內腔Φ16.30 ± 0.1mm
6. 試樣度：16mm ± 0.5mm
   測量誤差：±0.1mm
7. 取樣壓力：4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm2 ± 0.5 kg/cm2)
   壓力量程：0 - 100 kg 可調
8. 顯示方式: 電阻、電阻率、壓力為 3 1/2 數(shù)字顯示,并自動顯示單位和小數(shù)點
9. 電源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 率消耗 < 150W 消耗
10. 外形尺寸電氣箱：440mm×120mm×320mm
11. 備有粉末測試架和固態(tài)標準樣品測試臺供選用 

半導體電阻率測試儀/電阻率測試儀/半導體電阻率測定儀(含探頭和測試架）　型號：DP-BD-86A

DP-BD-86A型半導體電阻率測試儀是我廠推出的的普及型半導體電阻率測試儀器，本儀器是根據(jù)四探針原理，適合半導體器材廠，材料廠用于測量半導體材料（片狀、棒狀）的體電阻率，方塊電阻（簿層電阻），也可以用作測量金屬薄層電阻，經過對用戶、半導體廠測試的調查，根據(jù)美ASTM標準的規(guī)定，在電路和探頭方面作了重大的修改和上的許多突破，它更適合于半導體器材廠藝檢測方面對中值、阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要，成為普及型的電阻率測試儀，具有測量度，穩(wěn)定性好，輸入阻抗，使用方便、價格低廉等特點。

   儀器主要標：

1．  測量范圍：電阻率10^-3—10³Ω-cm，分辯率為 10^-4Ω-cm ，可擴展到10⁵Ω-cm

  方塊電阻10^-2—10⁴Ω/□，分辯率為10^-3Ω/□，可擴展到10⁶Ω/□

薄層金屬電阻10^-4—10⁵Ω，分辯率為10^-4Ω

2.可測半導體材料尺寸：直徑Φ15—Φ125mm；  長度：150mm(可擴展500mm)

     3.測量方式：軸向、斷面均可

4．數(shù)字電壓表：（1）量程：20mV(分辯率：10μV)、200mV、2V

             （2）測量誤差：±0.3%讀數(shù)±1字

             （3）輸入阻抗：大于10⁸Ω

             （4）顯示3 1/2 位紅色發(fā)光二管（LED）數(shù)字顯示

                  0---1999具有性、過載、小數(shù)點、單位自動顯示

5．恒流源：由交流供電，具有良好的防泄漏隔離能

（1）       直流電流：0—100mA連續(xù)可調

（2）       量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

（3）       分辯率：10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA

（4）       電流誤差：±0.3%讀數(shù)±2字

6．電性能模擬考核誤差：<±0.3%符合ASTM標

7．測試探頭：（1）探針機械游移率：± 0.3% 符合ASTM 標

8．電源：交流220V±10%   50HZ或60HZ  率消耗< 30W

9．電氣箱外形尺寸：119×440×320mm

注:產品詳細介紹資料和上面顯示產品圖片是相對應的